立式光学计 光学比较仪 JDG-S2数显立式光学计

JDG-S2数显立式光学计

一. 产品简介

JDG-S2数字式立式光学计是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，生产过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。

二. 技术规格

1.被测件最大长度：200 mm

2.直接测量范围：10mm

3.最小显示值：0.1 μm

4.测量力：(2±0.2) N 

5.示值变动性：0.1 μm

6.最大不准确度：±0.25 μm

7.读数方式：数字显示

8.最大测量误差：±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计 

9.仪器体积：300×170×410 mm

10.仪器重量：18 kg