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    立式光学计 光学比较仪 JDG-S2数显立式光学计

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产品详情
 

JDG-S2数显立式光学计

一. 产品简介

JDG-S2数字式立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。

二. 技术规格

1.被测件最大长度:200 mm

2.直接测量范围:10mm

3.最小显示值:0.1 μm

4.测量力:(2±0.2) N 

5.示值变动性:0.1 μm

6.最大不准确度:±0.25 μm

7.读数方式:数字显示

8.最大测量误差:±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 

9.仪器体积:300×170×410 mm

10.仪器重量:18 kg

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6-水须知