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    偏光片吸收轴透过轴光学膜片轴向测量仪NMV-FAM(无导轨)

  • 浏览次数:205 
  • 品牌:精创光学
  • 重复测试精度:0.05度
  • 单片测试时间:约10s
  • 产品品牌:精创光学
  • 单价:270000.00元/台
  • 最小起订量:1 台
  • 供货总量:20 台
  • 发货期限:自买家付款之日起 3 天内发货
  • 有效期至: 长期有效
  • 立即询价
产品详情
 通用标头3


光学膜片轴向测量仪
是一款全自动测量偏光片和偏光膜吸收轴(透过轴)角度的仪器。

光学膜片光轴测量仪采用偏振光光电探测技术对透过材料的偏振光进行高精度采集测量,从而计算出偏振材料主轴相对机械坐标的夹角,用于指导生产出符合客户要求角度的偏振材料。对于传统偏振材料的裁切,其需求角度和裁切角度通常会有一定的偏差,有时会达到0.5°、1°甚至更大,导致后续产品的加工中造成品质差异。因为偏振材料不同轴角度的组合会带来输出光强的不一致,客户直观体验出现明显差异。而吸收轴测量仪目前阶段只能针对偏振片进行测量,如补偿膜、离型膜就无法进行检测。光学膜片光轴测量仪通过双偏振模组机构,实现了一台设备的综合测量;全自动检测,为产品的品质保障提供有力的数据支撑。


测试时采用手动放置偏光片和其他光学膜的方式,可对偏光片和其他光学膜吸收轴角度(透过轴角度)进行单次测量和多次连续测量,并实时显示测量结果。配置电脑可保存大量测试数据,具备数据查询,光轴角度分布分析、数据报表导出等功能。


设备优势:


采用高精度进口电机
,具备极高的角度分辨率,可有效保证测量精度;

测量时样品载具自动定位,减少人为干扰因素,重复定位精度高;


预先选定测量类型,其中偏振膜与其他薄膜测量算法不同

 
主要
技术参数:


检测原理:偏振光光电探测技术                                               

偏光板测量范围:0-180°;

离型膜测量范围:0-90°;

补偿膜测量范围:0-90°;

精度/标准偏差: 约±0.05°

分辨率: 约为0.02°

视野范围:φ30mm

构成: 台式电脑 (含测量软件一套)、电缆线等             

光源:LED 632.8nm;

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产品展示2
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